Araştırmacılar, bir çift ofset ışını kullanarak spektroskopik bir prob olarak doğrudan bir hedefe yönlendirilebilen femtosaniye UV darbeleri üretmek için bir yöntem geliştirdiler. Ultra hızlı spektroskopinin kullanılmasıyla, bir nesnenin ışık tepkisini atomları ve elektronlarıyla aynı hızda kaydetmek mümkündür. Ultra kısa darbelerin en kolay üretildiği optik ve aşırı UV bantlarındaki ışık, en verimli yöntemlerde kullanılır.
Şimdi, bir ekip tarafından “derin UV” bölgesinde darbeler vermek için bir yöntem oluşturuldu. Yeni spektroskopik teknik, elmas ile yapılan deneylerde gösterildiği gibi, gelecekteki yüksek hızlı elektronik uygulamaları için araştırılan dielektrik malzemelerdeki ultra hızlı davranışı ortaya çıkarabilir.
Derin-UV femtosaniye darbeleri genellikle düşük frekanslı bir ışık darbesinin doğrusal olmayan bir “nesil” malzemeye ateşlenmesini içeren bir frekans dönüştürme tekniği ile oluşturulur. Gelen frekansın katları olan bir frekansa sahip bir darbe, malzeme içindeki etkileşimler tarafından üretilir. Bu yüksek frekanslı darbeyi izole etmenin zorluğu, genellikle darbeyi bozabilecek filtrelerin ve diğer optik bileşenlerin eklenmesini gerektirmesidir.
Spektroskopik teknik, Almanya’daki Jena Friedrich Schiller Üniversitesi’nden Adrian Pfeiffer ve arkadaşları tarafından darbe izolasyonu için herhangi bir optik bileşene ihtiyaç duyulmadan oluşturuldu. İki düşük frekanslı darbe, bir üretim malzemesine biraz farklı açılarla gönderilir. Bir kırınım ızgarasının çoklu ışın çıkışına benzer şekilde, etkileşim malzemeden farklı açılarda çıkan bir dizi derin-UV darbesi üretir. Bu darbelerden biri ince bir elmas levhanın yoluna yerleştirildi ve iletim kaydedildi. Malzemenin bant yapısında ışık kaynaklı bir değişiklik olan dinamik Franz-Keldysh etkisi spektrumlarda görülebildi. Pfeiffer ve meslektaşlarına göre bu küçük ışın hattı, cam ve kuvars gibi dielektrikler için çok amaçlı bir optik sonda görevi görebilir.
